离子迁移测试系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流，电压（BiAS vOLTAGE），经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（iON MiGRATiON），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。